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　　DHT系列低溫試驗箱

　　多禾試驗DHT®歐洲研發(fā)中心推出DHT系列低溫試驗箱，緊湊的設計，特別適合實驗室，高校，研究所的低溫試驗場所。DHT系列低溫試驗箱運用DHSPLCON技術將高低溫試驗箱使用壽命大大延長。多禾試驗，成型于歐洲，產銷于國內，對標德國品質，價格親民。DHT系列試驗箱為電子、電工、儀表、零部件、材料等試驗樣品提供穩(wěn)定的高低溫試驗+濕度環(huán)境。適用于各類高校，專業(yè)實驗室研究開發(fā)及對空間要求較高環(huán)境使用。DHT系列試驗箱為電子、電工、儀表、零部件、材料等試驗樣品提供穩(wěn)定的高低溫試驗環(huán)境，以便在相應環(huán)境條件下進行試驗儲存后對產品性能做出分析及評價。

　　DHT®低溫試驗箱產品優(yōu)勢
　　全新國際設計理念，國家專利產品
　　雙層真空大視窗設計，安全防霧，同時配備飛利浦高亮度照明
　　操作方便：采用彩色液晶觸摸屏，設定、顯示各種運行數，同時控制器位置可隨時根據實際情況上下調節(jié)，增強使用者舒適度體驗。
　　記錄量大：實時記錄大量采樣數據，并可實現在 PC機上打印曲線。
　　高可靠性：為提高整機的可靠性，主要部件經嚴格考核，全部由各知名專業(yè)廠商提供。
　　安全保護：溫度過升保護，試品保護，設備自身保護，操作人員安全保護等，全方位安全考慮。
　　引進德國技術，意大利先進控制系統(tǒng)，性能穩(wěn)定
　　可非標定制
　　升降溫特性

 　　DHT®低溫試驗箱執(zhí)行與滿足標準及試驗方法
　　GB11158-2008 高溫試驗箱技術條件
　　GB10589-2008 低溫試驗箱技術條件
　　GB10592-2008 高低溫試驗箱技術條件(溫度交變)
　　GB/T2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫    IEC 60068-2-1:2007
　　GB/T2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗B：高溫   IEC 60068-2-2:2007
　　GB/T2423.22-2002電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化IEC 60068-2-14
　　GJB150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分: 高溫試驗
　　GJB150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分: 低溫試驗

 
　　DHT®低溫試驗箱配件清單
　　使用環(huán)境溫度：+5～+35℃ (降溫保障+5～+28℃)
　　安全配置：漏電保護、短路保護、壓縮機超壓保護、壓縮機過載保護、風機過載保護、超溫保護、相序/缺相保護
 

　　附件標準配置：
　　照明燈*1
　　直徑50mm引線孔*2；硅膠塞*2
　　AISI304樣品架：2個（100L-1000L）
　　通訊方式： USB（標配）
　　可調節(jié)腳輪：4只

　　DHT®低溫試驗箱選配清單
　　以太網/ /CF/SD存儲卡（選配）
　　RS485/232（選配）