2023-02-17
華為用技術(shù)走出行業(yè)破局之路，用環(huán)境可靠性測試奠定技術(shù)基礎(chǔ)！
前幾日，華為在武漢召開了異常平板PC創(chuàng)新技術(shù)媒體溝通會，會上華為展示了PC平板產(chǎn)品的成果，用技術(shù)上的創(chuàng)新走出了行業(yè)破局之路。華為的研發(fā)有目共睹，后期完善的可靠性測試更是錦上添花。華為的PC平板產(chǎn)品在進入市場之前都會經(jīng)過各類測試，比如高溫高濕測試項目，在業(yè)界就屬于第一梯隊，這使得華為的PC平板產(chǎn)品在可靠性方面有更強的說服力。
一、環(huán)境可靠性試驗對華為產(chǎn)品的作用
PC平板產(chǎn)品在使用過程中，環(huán)境條件的影響往往容易被忽視，然而它對其正常運行和有效利用有著很大的影響。各種系列PC平板產(chǎn)品的技術(shù)設備和信息記錄，對環(huán)境條件的參數(shù)范圍都有技術(shù)規(guī)定，超過和達不到這個規(guī)定就會使得產(chǎn)品的可靠性降低，壽命縮短。而環(huán)境因素中，溫度和濕度是不可分割的兩個重要因素。
華為研究所正是通過環(huán)境可靠性試驗，去反映華為的產(chǎn)品問題、功能設計，甚至反向“改造”生產(chǎn)線，用高度精密的自動化檢測設備替換掉傳統(tǒng)的人工質(zhì)檢，也賦予了華為筆記本電腦、平板電腦諸多友商難以企及的長久耐用性、或是消費者甚至想象不到的細節(jié)體驗。
二、華為產(chǎn)品溫濕度試驗的過程
高溫會使元器件和電路產(chǎn)生的熱量散不出去，從而加快材料老化，并在內(nèi)部引起暫時的或永久的微觀變化，低溫容易使得PC產(chǎn)品內(nèi)部金屬部件鈍化，軟磁盤變得脆弱；相對濕度過低，容易產(chǎn)生靜電，對PC產(chǎn)品造成干擾，濕度過高會使得內(nèi)部電阻增大，廣告媒體。所以說溫濕度對PC平板產(chǎn)品的影響不是那么一點點，在出廠前的測試變得尤為重要，這里我們僅從溫濕度試驗來看看華為產(chǎn)品具體是怎么做的。國內(nèi)檢測機構(gòu)多禾，在汽車、電子元器件、軍工業(yè)等領(lǐng)域都有自己的優(yōu)勢，技術(shù)人員二十年經(jīng)驗，性價比高。
1）將樣品放入試驗箱，按照如下要求設定溫度程序
2）試驗箱設置溫度為+25℃，相對濕度為95%
3）用3h時間，使得溫度上升到+55℃，相對濕度95%，并保持9h
4）用3h時間，使得溫度降低到+25℃，相抵濕度95%，并保持9h
5）以上為一個周期，重復4個循環(huán)
6）然后在溫度+25℃，相對濕度75%條件下保持2h
7）取出樣品，常溫下恢復2h，檢查外觀
三、環(huán)境可靠性試驗讓華為技術(shù)成為破局之路
華為因為重視技術(shù)，才會更加重視華為平板電腦和PC設備的研發(fā)和測試。研發(fā)很好理解，但“測試”，常常被消費者忽略，然而實際上，各種先進的、行業(yè)首創(chuàng)的測試設備和測試方法，才是華為真正厲害的地方，包括全頻段天線信號、砂礫適應性、鹽霧侵蝕測試、高溫高濕、跌落測試等可靠性測試。
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