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2024-10-09

DHT高低溫交變濕熱試驗箱,保障高新技術領軍企業(yè)品質(zhì)的關鍵

位于中國東部沿海的高新技術領軍企業(yè),近年來在衛(wèi)星技術應用及信息系統(tǒng)集成領域取得了顯著成就,尤其在衛(wèi)星遙感應用系統(tǒng)的集成和數(shù)據(jù)處理方面展現(xiàn)出卓越的專業(yè)能力。依托強大的研發(fā)實力和高效的技術成果轉(zhuǎn)化機制,該企業(yè)已贏得國際國內(nèi)市場的廣泛認可。

衛(wèi)星.png

為了進一步保障其產(chǎn)品的高品質(zhì)與高可靠性,尤其是針對極端環(huán)境的應用挑戰(zhàn),該企業(yè)采用了DHT?(多禾試驗)的高低溫交變濕熱試驗箱,以滿足其對衛(wèi)星組件進行嚴格測試的需求。

一、環(huán)境適應性測試

1.測試目的:驗證衛(wèi)星組件在高低溫和濕度交替條件下的穩(wěn)定性與功能。

2.樣品:衛(wèi)星傳感器模塊和數(shù)據(jù)處理單元。

3.測試流程

1)      準備階段:清潔和標識樣品,記錄初始狀態(tài)及性能指標。

2)      測試階段:將樣品放置于試驗箱中,設定溫度范圍-70°C至+150°C,濕度范圍20%RH至98%RH,按標準交替測試。

3)      監(jiān)測階段:實時記錄溫濕度變化及樣品物理和電氣狀態(tài),確保數(shù)據(jù)準確。

4)      評估階段:分析樣品在極端環(huán)境下的性能表現(xiàn),包括傳感器的準確性與數(shù)據(jù)處理單元的穩(wěn)定性。

4.執(zhí)行標準:GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán))

交變濕熱.png

二、熱沖擊試驗

1.測試目的:評估衛(wèi)星電子元件在快速溫度變化下的耐受能力。

2.樣品:衛(wèi)星通信模塊和導航系統(tǒng)組件。

3.測試流程

1)      準備階段:確保樣品在熱沖擊試驗箱中的良好接觸與固定。

2)      測試階段:在設定溫度范圍內(nèi)(-40°C至+100°C)快速切換環(huán)境,模擬發(fā)射與空間中的溫度劇烈變化。

3)      監(jiān)測階段:實時記錄樣品溫度變化與結(jié)構反應。

4)      評估階段:觀察樣品熱沖擊后的裂紋與變形,評估材料熱穩(wěn)定性與結(jié)構完整性。

4.執(zhí)行標準:MIL-STD-810G 美國軍事標準——環(huán)境工程考慮與實驗室測試

多禾試驗設備-325.jpg

三、耐濕性測試

1.測試目的:評估衛(wèi)星部件在高濕度環(huán)境下的耐受性。

2.樣品:衛(wèi)星電路板和外殼材料。

3.測試流程

1)      準備階段:樣品進行清潔和記錄初始狀態(tài),確保測試的一致性。

2)      測試階段:樣品放入試驗箱,設定濕度為98%RH,進行72小時的持續(xù)暴露,以模擬高濕條件對材料的影響。

3)      監(jiān)測階段:實時監(jiān)控濕度變化及樣品物理狀態(tài),記錄性能變化。

4)      評估階段:檢查樣品表面和內(nèi)部是否出現(xiàn)腐蝕、霉變等濕度相關損傷。

4.執(zhí)行標準:GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗

衛(wèi)星電路板.jpg

通過引入DHT?(多禾試驗)的高低溫交變濕熱試驗箱,該企業(yè)不僅能夠顯著提升其衛(wèi)星相關產(chǎn)品在各種嚴苛環(huán)境下的適應性和耐久性,還能有效縮短新產(chǎn)品從設計到上市的時間周期,從而在激烈的市場競爭中占據(jù)先機。此外,高低溫交變濕熱試驗箱還滿足了公司對產(chǎn)品質(zhì)量的高標準要求,為未來的產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量控制提供了強有力的支持。


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